第264章 M2流片（2/2）

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技术人员将芯片样品小心翼翼地放置在测试平台上，连接好各种测试设备。负责测试的小吴对林宇说道：“林总，我们首先会进行功能测试，检查 2 处理器是否能够正常运行各种指令集，包括整数运算、浮点运算、逻辑运算等。”

林宇说道：“小吴，功能测试是基础，一定要细致入微。任何一个指令集的错误执行都可能意味着芯片设计存在缺陷。”

小吴开始启动测试程序，眼睛紧紧盯着测试设备上不断闪烁的数据和图表。“目前整数运算测试正常，但在浮点运算中，似乎出现了一些数据偏差。”

蓬特科夫听到这个消息，立刻走到测试设备前查看。“这个数据偏差可能是由于浮点运算单元的电路设计或者是在流片过程中的工艺误差导致的。我们需要进一步分析具体原因。”

张启明说道：“会不会是在光刻过程中，浮点运算单元相关的电路图案出现了微小的瑕疵，影响了信号的传输和处理？”

蓬特科夫说道：“有这种可能。我们需要对芯片进行微观检测，查看电路结构是否存在异常。同时，也要重新核对浮点运算单元的设计图纸和流片工艺参数。”

在进行微观检测时，检测人员使用高倍显微镜和电子探针等设备仔细地检查芯片的电路结构。

检测员小周说道：“蓬特科夫博士，在浮点运算单元的部分电路连接处，发现了一些金属杂质，这可能会影响信号的传导。”

蓬特科夫皱起了眉头。“这些金属杂质可能是在蚀刻或者清洗工艺过程中引入的。我们需要优化这两个工艺环节，避免类似问题再次出现。”

林宇说道：“这也给我们敲响了警钟，在芯片生产过程中，每一个工艺环节都必须严格把控，不能有丝毫的疏忽。”

在解决了浮点运算单元的问题后，测试继续进行。接下来的逻辑运算测试又出现了新的挑战。

小吴汇报道：“林总，在逻辑运算测试中，发现 2 处理器的逻辑门电路有时会出现误判现象。”

蓬特科夫陷入了沉思，片刻后说道：“逻辑门电路的误判可能是由于晶体管的特性不稳定或者是电路布局不合理导致的。我们需要对晶体管的参数进行重新测量和分析，同时优化电路布局。”

张启明说道：“我们可以联系晶体管供应商，了解他们的产品质量情况，同时也检查一下我们在芯片制造过程中对晶体管的处理工艺是否存在问题。”

经过一系列的排查和优化，逻辑门电路的问题也得到了解决。但林宇知道，这只是 2 处理器流片测试中的一部分问题，后面还有性能测试、稳定性测试等诸多挑战等待着他们。

林宇鼓励大家说道：“虽然我们遇到了不少问题，但这也是我们不断进步的机会。每解决一个问题，2 处理器就离成功更近一步。大家不要气馁，继续保持高度的专注和严谨，我们一定能够攻克所有难关。”

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